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    BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位儀廠家

    簡(jiǎn)要描述:Zeta電位儀廠家供應(yīng)的BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。

    • 產(chǎn)品型號(hào):
    • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    • 更新時(shí)間:2025-03-18
    • 訪  問  量: 28147

    詳細(xì)介紹

    產(chǎn)品介紹

    BeNano 90 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀 是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動(dòng)態(tài)光散 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS,可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta 電位,高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù),可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。

    BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位儀廠家


    基本性能指標(biāo)

    粒徑檢測(cè)

     粒徑范圍

     0.3 nm – 15 μm

     最小樣品量

     3 μL

     檢測(cè)角度

     90 ° + 11.2°

     分析算法

    Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

    Zeta電位測(cè)試

     Zeta范圍

     無實(shí)際限制

     電泳遷移率范圍

    >±20 μ.cm/V.s

     電導(dǎo)率范圍

      0 - 260 mS/cm

    Zeta測(cè)試粒徑范圍

     2 nm – >120 μm

    分子量測(cè)試

     分子量范圍

     342 Da – 2 x 107 Da

    微流變測(cè)試

     測(cè)試能力

     均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span>

    趨勢(shì)測(cè)試

     模式 時(shí)間和溫度

    系統(tǒng)參數(shù)

     溫控范圍

     -15°C - 120°C

     冷凝控制

     干燥空氣或者氮?dú)?/span>

     標(biāo)準(zhǔn)激光光源

     50 mW 高性能固體激光器, 671 nm

     相關(guān)器

     快、中、慢多模式,最快25 ns采樣,最多 4000通道,1011動(dòng)態(tài)線性范圍

    檢測(cè)器

    APD (高性能雪崩光電二極管)

     光強(qiáng)控制

    0.0001%  - 100%,手動(dòng)或者自動(dòng)










    檢測(cè)參數(shù)

    動(dòng)態(tài)光散射

    ●流體力學(xué)尺寸 Dh

    ●分布系數(shù) PD.I

    ●擴(kuò)散系數(shù) D

    ●顆粒間相互作用力因子 kd

    ●顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布

    ●計(jì)算分子量

    ●溶液粘度和折射率

    流變學(xué)信息G*,G‘,G“,η*,J


    電泳光散射

    Zeta電位及其分布

    帶電顆粒的電泳遷移率


    趨勢(shì)測(cè)試

    Zeta電位和粒徑的pH滴定

    粒徑和Zeta電位的溫度趨勢(shì)測(cè)試


    靜態(tài)光散射

    絕對(duì)分子量Mn、Mw、Mz

    分子量分布

    第二維利系數(shù)A2



    選配件

    動(dòng)靜態(tài)流動(dòng)模式

    BeNano動(dòng)靜態(tài)流動(dòng)模式(Flow Mode)是將納米粒度及Zeta電位儀同一個(gè)分離前端(FFF、GPC/SEC)相連接。分離前端可以根據(jù)尺寸將樣品進(jìn)行分離,依次流出。通過檢測(cè)每個(gè)流出組分的動(dòng)態(tài)光散射信號(hào)和靜態(tài)光散射號(hào),并結(jié)合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號(hào),得到高分辨率且不依賴于計(jì)算模型的粒徑分布、分子量分布信息。

    BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位儀廠家


    BAT-1自動(dòng)滴定儀

    樣品的Zeta電位和粒徑對(duì)于分散液介質(zhì)環(huán)境具有強(qiáng)烈的依賴性,尤其是環(huán)境pH,不但影響Zeta電位的大小,而且會(huì)影響顆粒體系的帶電符號(hào)。BAT-1自動(dòng)滴定儀與BeNano系列連用,內(nèi)置三個(gè)高精度滴定泵和一個(gè)樣品輸送泵,具有樣品攪拌能力,可以對(duì)于樣品的粒徑和Zeta電位進(jìn)行自動(dòng)化的酸堿滴定測(cè)試,具有測(cè)試效率高、精確定量、重復(fù)性好、結(jié)果不依賴于操作者等特點(diǎn)。由于盛放樣品的樣品管可拋棄,避免了交叉污染的風(fēng)險(xiǎn)。

    BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位儀廠家


    BeScan穩(wěn)定性分析儀

    BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備,通過檢測(cè)得到樣品隨空間分布、時(shí)間、溫度的不穩(wěn)定性變化,并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS,粒子遷移速度及樣品粒徑隨時(shí)間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度,能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化,從而極大的節(jié)約檢測(cè)時(shí)間,縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用,通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。

    BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位儀廠家

    0°光電模塊

    0°PD+CMOS模塊,分散液折射率,沉降法粒度和顆粒物濃度測(cè)試。


    歡迎咨詢由Zeta電位儀廠家供應(yīng)的Zeta電位儀!





     

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