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    顆粒測(cè)試之動(dòng)靜態(tài)圖像分析法各有哪些優(yōu)缺點(diǎn)?

    更新時(shí)間:2022-06-13      點(diǎn)擊次數(shù):2423
    顆粒的物理性質(zhì)測(cè)試對(duì)于很多行業(yè)都具有重要意義,顆粒的粒徑分布與球形度、長(zhǎng)徑比等外形分布數(shù)據(jù)都是經(jīng)常需要用到的物理參數(shù)。

    靜態(tài)顆粒圖像分析設(shè)備采用圖像采集系統(tǒng)與分析軟件,將計(jì)算機(jī)圖像學(xué)與顆粒粒度及粒形分析理論結(jié)合,在獲得清晰的顆粒圖像的同時(shí),將顆粒的粒度、球型度、長(zhǎng)徑比、龐大率、表面率等相關(guān)顆粒大小和形狀的表征參數(shù)以特征值和分布的形式呈現(xiàn)出來,使用戶可以詳細(xì)的了解顆粒。

    動(dòng)態(tài)顆粒圖像分析儀
    借助于500萬像素的工業(yè)級(jí)雙向遠(yuǎn)心鏡頭以及強(qiáng)大的分析軟件,可快速對(duì)待測(cè)顆粒進(jìn)行粒形分析,可以同時(shí)測(cè)量顆粒的粒度粒形參數(shù),并且具有采樣量大,無取向誤差,顆粒無粘連重疊等特點(diǎn),廣泛應(yīng)用于質(zhì)量控制、研發(fā)部門以及實(shí)驗(yàn)室,可替換篩分分析。

    靜態(tài)圖像法(顯微鏡法):由顯微鏡、攝像機(jī)和圖像分析軟件組成。

    優(yōu)點(diǎn):成本較低,操作簡(jiǎn)單,圖像清晰、可進(jìn)行圓形度、長(zhǎng)徑比等形貌分析。

    缺點(diǎn):分析速度慢,無法分析細(xì) 顆粒(如-2 μm )。
     

    動(dòng)態(tài)圖像法:由顯微鏡、高速攝像機(jī)、樣品分散系統(tǒng)、控制系統(tǒng)以及高速圖像分析軟件組成。

    優(yōu)點(diǎn):顆粒圖像直觀清晰,操作簡(jiǎn)便、拍攝與分析速度快、重復(fù)性和準(zhǔn)確性好,可干法也可濕法,可測(cè)量最大顆粒,可進(jìn)行圓形度、長(zhǎng)徑比等形貌分析。

    缺 點(diǎn):分析細(xì)顆粒(如-2 μm )圖像不清晰,誤差較大,成本較高。

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